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近場探頭的感應(yīng)元件是什么
更新時(shí)間:2017-06-20   點(diǎn)擊次數(shù):1426次
近場探頭介紹 
    電磁場是由電場(E場)和磁場(H場)結(jié)合形成的。工程師可使用各種探頭來檢測每類場中的發(fā)射。  
    近場探頭磁場發(fā)射源通常來自芯片組引腳、印刷電路板導(dǎo)線、電源線或信號(hào)線,或沒有良好接地的金屬蓋。近場探頭的感應(yīng)元件是一個(gè)與發(fā)射導(dǎo)線或電線電感耦合的簡易線圈。近場探頭在它的回路與載流電線對(duì)齊時(shí),提供頻譜分析儀的zui大輸出電壓。在診斷EMI的故障時(shí),工程師需要在被測器件的表面旋轉(zhuǎn)和移動(dòng)探頭,以確定探頭在功率讀數(shù)達(dá)到zui大值時(shí)的位置,同時(shí)避免遺漏重要的發(fā)射源。 
    近場探頭電場主要來源于未使用負(fù)載端接的電纜和電線,以及通向高阻抗邏輯電路的印刷電路板導(dǎo)線(可能是邏輯集成電路的高阻抗輸入或三相輸出)。zui簡單的近場探頭實(shí)質(zhì)上就是一個(gè)小型天線。近場探頭能夠很方便地探測空中信號(hào),例如蜂窩下行鏈路信號(hào)。這些大功率空中信號(hào)可能需要增加衰減,以防頻譜分析儀過載。不過,增加衰減將會(huì)影響頻譜分析儀的靈敏度。 
    選擇近場探頭類型在遠(yuǎn)場測試中,被測器件和天線之間的距離決定了場強(qiáng)的大小。當(dāng)近場探頭靠近發(fā)射源時(shí),電流、電壓、形狀和材料等特性將成為決定場強(qiáng)的主要因素。如果輻射是來自高電壓、弱電流的電路或元器件,那么電場在EMI近場中將起到主要作用。如果部分被測器件中電流很強(qiáng)而電壓較低,那么磁場將起到主要作用。在近場測試中,當(dāng)近場探頭逐漸遠(yuǎn)離被測器件時(shí),磁場衰落的速度比電場更快。因此,近場探頭更多地用于在近場測試中定位發(fā)射目標(biāo)。
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