產(chǎn)品展示
近場探頭EM5030（DC-3G）
概述：
近場探頭EM5030（DC-3G） 是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產(chǎn)生原因的高性價(jià)比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強(qiáng)度；檢測模塊附近的磁場環(huán)境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過近場探頭測量可以很方便地實(shí)現(xiàn)定位功能。通過配合EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統(tǒng)測試靈敏度。
技術(shù)參數(shù)：
訂購信息：
EM5030 近場探頭（3G）
標(biāo)準(zhǔn)配置：4根探頭、N型轉(zhuǎn)接頭、連接線、包裝箱；
